Language:
English
Česky
SFX K.UTB Link Resolver
Contains information about title and source of a journal
Title:
Snímání povrchu pomocí mikrovlnného mikroskopu
Source:
Jemná mechanika a optika; technický mesíčník Ministerstva všeobecného strojírenstvi [0447-6441] Křesálek, Vojtěch yr:2005 vol:50 iss:11-12 pg:319 -321
List of services to meet your request
Contains list of services for current record
Request document via
Interlibrary Loan Service
© 2024 SFX by Ex Libris Inc. |
Cookie Policy